AECQ101认证包含了离散半导体元件（如晶体管，二极管等）*低应力测试要求的定义和参考测试条件，目的是要确定一种器件在应用中能够通过应力测试以及被认为能够提供某种级别的品质和可靠性。
AECQ101认证要求成功完成根据本规范各要点需要的测试结果，那么将允许供应商声称他们的零件通过了AEC Q101认证。供应商可以与客户协商，可以在样品量和条件的认证上比文件要求的要放宽些，但是只有完成所有要求时候才能认为该器件通过了AEC-Q101认证。如静电放电,承受电压在任何一个供应商的带Pin元件数据表中都要注明，该要求被高度推荐.但允许供应商作出声明，例如，“AEC-Q101 qualified to ESD H1B”，这意味着除AEC ESD外，供应商通过了所有的测试。请注意，即使合格的器件AEC也不会颁发证书.
根据本规范,离散半导体的*低温度的范围应为-40℃ ~ +125℃，所有LED的*小的范围应为40℃到85℃。（注：某些器件*高温度可能降到零）。
测试项目要求：
应力测试前后（电学测试）、预处理、目检、参数验证、高温反向偏压、高温栅偏压、温度循环、无偏高加速度应力、高压锅、高加速度应力测试、高温高湿反向偏压、间歇运行寿命、功率和温度循环、静电放电特性、破坏性物理分析、物理尺寸 、端子强度、耐溶剂性、恒定加速度、变频震动、机械冲击、气密性、耐焊接热、可焊性、热阻、邦线强度、邦线剪切、芯片剪片、雪崩击穿、绝缘、短路可靠性、无铅
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